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材料分析测试技术

材料分析测试技术

定  价:26.8 元

丛书名:材料X射线衍射与电子显微分析

        

  • 作者:周玉,武高辉 著
  • 出版时间:2007/8/1
  • ISBN:9787560313382
  • 出 版 社:哈尔滨工业大学出版社
  • 中图法分类:TG115.23 
  • 页码:283
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16K
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  《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
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