芯片验证调试手册——验证疑难点工作锦囊

定　　价：69 元

• 作者：刘斌
• 出版时间：2023/1/1
• ISBN：9787121448454
• 出 版 社：电子工业出版社

• 中图法分类：TN43-62 
• 页码：240
• 版次：01
• 开本：16开

内容简介

资深芯片验证专家刘斌（路桑）围绕目前芯片功能验证的主流方法—动态仿真面临的日常问题展开分析和讨论。根据验证工程师在仿真工作中容易遇到的技术疑难点，本书内容在逻辑上分为 SystemVerilog疑难点、UVM 疑难点和 Testbench 疑难点三部分。作者精心收集了上百个问题，给出翔实的参考用例，指导读者解决实际问题。在这本实践性很强的书中，作者期望能够将作者与诸多工程师基于常见问题的交流进行总结，以易读易用的组织结构呈现给读者，目的是帮助芯片验证工程师更有效地处理技术疑难点，加快芯片验证的调试过程。

作者介绍

刘斌（路桑），毕业于西安交通大学微电子专业，瑞典皇家理工学院芯片设计专业硕士。拥有超过50,000名验证从业订阅者的路科验证创始人，主持国内前沿的芯片验证架构规划和方法学研究，担任过数款十亿门级通信芯片的验证经理，目前独立从事芯片验证技术咨询。同时在西安电子科技大学长期客座授课，以及开展芯片验证职业在线教育为业界输送大量人才。著有《芯片验证漫游指南》。可通过[e-mail]与作者取得联系。