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点击返回 当前位置:首页 > 中图法 【TN3 半导体技术】 分类索引
  • 半导体器件建模与测试实验教程
    • 半导体器件建模与测试实验教程
    • 杜江锋,石艳玲,朱能勇编著/2025-1-1/ 电子工业出版社/定价:¥58
    • 本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上,全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应;介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计;给出了MOSFETBSIM模型参数提取流程;介绍了半导体器件SPICE模型建模平台EmpyreanXModel,深入介绍了XModel的基本功能和界面;介

    • ISBN:9787121493713
  • SMT单板互连可靠性与典型失效场景
    • SMT单板互连可靠性与典型失效场景
    • 贾忠中/2024-8-1/ 电子工业出版社/定价:¥168
    • 本书是作者从事电子制造40年来有关单板互连可靠性方面的经验总结,讨论了单板常见的失效模式、典型失效场景以及如何设计与制造高可靠性产品的广泛问题,并通过大量篇幅重点讨论了焊点的断裂失效现象及裂纹特征。全书内容共4个部分,第一部分为焊点失效机理与裂纹特征,详细介绍焊点的失效模式、失效机理、裂纹特征及失效分析方法;第二部分为

    • ISBN:9787121486371
  • 半导体结构
    • 半导体结构
    • 张彤/2024-6-1/ 科学出版社/定价:¥59
    • 《半导体结构》主要内容总体可被划分为两个部分,分别是晶体的结构理论和晶体的缺陷理论。第一部分主要围绕理想晶体(完美晶体)的主要性质与基本概念撰写,加深读者对晶体结构和关键性质的理解。第一部分拟通过五个章节分别介绍晶体的基本概念、晶体结构、对称性、晶体结构描述方法及典型半导体晶体的重要物理、化学特性和这些特性与晶体微观、

    • ISBN:9787030789778
  •  功率半导体器件:封装、测试和可靠性
    • 功率半导体器件:封装、测试和可靠性
    • 邓二平、黄永章、丁立健 编著/2024-5-1/ 化学工业出版社/定价:¥139
    • 本书讲述了功率半导体器件的基本原理,涵盖Si器件、SiC器件,GaN器件以及GaAs器件等;综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等;将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等,并详细介绍了测试标准、方法和原理,同步分析了测试设备和数据

    • ISBN:9787122449344
  • 集成电路与等离子体装备
    • 集成电路与等离子体装备
    • /2024-4-1/ 科学出版社/定价:¥168
    • 集成电路与等离子体装备

    • ISBN:9787030775467
  • 弹性半导体的多场耦合理论与应用
    • 弹性半导体的多场耦合理论与应用
    • 金峰,屈毅林著/2024-2-1/ 科学出版社/定价:¥165
    • 弹性半导体结构的机械变形-电场-热场-载流子分布等物理场的耦合分析十分复杂。《弹性半导体的多场耦合理论与应用》基于连续介质力学、连续介质热力学及静电学的基本原理,建立了半导体的连续介质物理模型。以该模型为基础,采用材料力学及板壳力学的建模方法系统地研究了典型弹性半导体结构中的多场耦合问题,包括一维和二维压电半导体结构(

    • ISBN:9787030773562
  • 新型电致发光材料与器件
    • 新型电致发光材料与器件
    • 唐爱伟、胡煜峰、崔秋红 等 编著/2024-1-1/ 化学工业出版社/定价:¥79
    • 目前以有机/聚合物和半导体量子点为代表的新型电致发光材料与器件受到了国内外众多企业和人士的广泛关注。本书从新型电致发光材料与器件原理,以及关键材料的开发与应用技术出发,内容涵盖有机电致发光概念与过程、有机电致发光材料、有机电致发光器件、半导体量子点材料、半导体量子点电致发光器件、卤素钙钛矿材料及其电致发光器件等。全书反

    • ISBN:9787122405593
  • 半导体制造过程的批间控制和性能监控
    • 半导体制造过程的批间控制和性能监控
    • 郑英,王妍,凌丹/2023-11-1/ 科学出版社/定价:¥128
    • 本书基于当前半导体行业制造过程中存在的问题,介绍了多种改进的批间控制和过程监控算法及其性能。第1章为半导体制造过程概述,包括国内外研究现状和发展趋势。第2、3章介绍批间控制、控制性能和制造过程监控。第4~7章讨论机台干扰、故障、度量时延对系统性能的影响,提出多种批间控制衍生算法,包括双产品制程的EWMA批间控制算法、变

    • ISBN:9787030708175
  • SMT工艺不良与组装可靠性(第2版)
    • SMT工艺不良与组装可靠性(第2版)
    • 贾忠中/2023-10-1/ 电子工业出版社/定价:¥188
    • 本书以工程应用为目标,聚焦基本概念与原理、表面组装核心工艺、主要组装工艺问题及最新应用问题,以图文并茂的形式,介绍了焊接的基础原理与概念、表面组装的核心工艺与常见不良现象,以及组装工艺带来的可靠性问题。全书结合内容需求,编入了几十个经典案例,这些案例非常典型,不仅有助于读者深入理解有关工艺的概念和原理,也可作为类似不良

    • ISBN:9787121464133
  • 多尺度模拟方法在半导体材料位移损伤研究中的应用
    • 多尺度模拟方法在半导体材料位移损伤研究中的应用
    • 贺朝会,唐杜,臧航,邓亦凡,田赏/2023-10-1/ 科学出版社/定价:¥150
    • 本书系统介绍了用于材料位移损伤研究的多尺度模拟方法,包括辐射与材料相互作用模拟方法、分子动力学方法、动力学蒙特卡罗方法、第一性原理方法、器件电学性能模拟方法等,模拟尺寸从原子尺度的10.10m到百纳米,时间从亚皮秒量级到106s,并给出了多尺度模拟方法在硅、砷化镓、碳化硅、氮化镓材料位移损伤研究中的应用,揭示了典型半导

    • ISBN:9787030764690