《数字集成电路测试——理论、方法与实践》全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论,第2~9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的
本书以典型的应用实例为主线,介绍AltiumDesigner21的特点和功能,并详细介绍利用该软件完成原理图设计和PCB设计的方法及流程。本书的主要内容包括初识AltiumDesigner21,工程的组成、创建及管理,原理图库与元件库,原理图设计,PCB设计,PCB的DRC与文件输出,2层Leonardo主板的PCB设
本书共十一章,内容包括:集成电路常识、常用数字集成电路、运算放大集成电路、声音集成电路、电源集成电路、LED显示控制集成电路、传感器与测量集成电路、其他常用集成电路等。
《集成电路导论》一书立足于集成电路专业人才的专业需求及就业需求,详细剖析了集成电路行业的发展过程及工艺要点,解读了不同专业方向的岗位设置情况及技能要求。主要内容包括:集成电路发展史、集成电路制造工艺、集成电路设计方法、集成电路应用领域、集成电路学科专业设置、集成电路就业岗位、集成电路工程师专业素养。
本书首先对3D堆叠集成电路的测试基本概念、基本思路方法,以及测试中面临的挑战进行了详细的论述;讨论了晶圆与存储器的配对方法,给出了用于3D存储器架构的制造流程示例;详细地介绍了基于TSV的BIST和探针测试方法及其可行性;此外,本书还考虑了可测性硬件设计的影响并提出了一个利用逻辑分解和跨芯片再分配的时序优化的3D堆叠集
在整个现代芯片设计的过程中,由于其复杂性,从而使得专业软件的广泛应用成为了必然。为了获得优异结果,使用软件的用户需要对底层数学模型和算法有较高的理解。此外,此类软件的开发人员必须对相关计算机科学方面有深入的了解,包括算法性能瓶颈以及各种算法如何操作和交互。《超大规模集成电路物理设计:从图分割到时序收敛(原书第2版)》介
本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书,包括对多种实际问题场景下的解决专题,推荐作为UVM的进阶教材进行学习。不同于带领读者学习UVM的基础用法,本书分为多个专题,每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题,相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤,实用性强。本书详细描述了每个专题
本书较全面地介绍常见微电子器件的基本结构、特性、原理、进展和测量方法。为了便于读者自学和参考,首先介绍微电子器件涉及的半导体晶体结构、电子状态、载流子统计分布和运动等基础知识;然后,重点阐述半导体器件中的结与电容等核心单元的特性和机理;之后,详细介绍双极型晶体管、MOS场效应晶体管的基本工作原理、特性和电学参数;在对经
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的
本书以Altium公司开发的AltiumDesigner22版本为平台,通过应用实例,按照实际的设计步骤讲解AltiumDesigner的使用方法,详细介绍了AltiumDesigner的操作步骤。本书内容包括AltiumDesigner简介、元件库的设计、绘制电路原理图、电路原理图绘制的优化方法、PCB设计预备知识、