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当前分类数量:345  点击返回 当前位置:首页 > 中图法 【TN3 半导体技术】 分类索引
  • 镓体系半导体与集成电路
    • 镓体系半导体与集成电路
    • 张韵,沈桂英编著/2024-12-1/ 中国铁道出版社/定价:¥128
    • 本书为《新兴半导体》分册。新兴半导体发展迅速、应用领域广泛、产业带动性强、节能潜力大,被公认为最有发展前景的战略性新兴产业,在消费类电子、5G通讯、新能源汽车、智能电网、航天等领域具有广阔的应用前景。本分册围绕新兴半导体这一“核芯”领域,从高载流子迁移率半导体材料、忆阻半导体材料、新型红外半导体材料及超宽禁带半导体材料

    • ISBN:9787113319335
  • 二维半导体的滑移铁电物理及器件特性研究
    • 二维半导体的滑移铁电物理及器件特性研究
    • 卞仁吉,刘富才著/2024-12-1/ 电子科技大学出版社/定价:¥60
    • 本书以最新的科研成果为基础,深入研究了新铁电极化机制的滑移铁电半导体。通过对大量实验数据的分析和理论推导,揭示了滑移铁电半导体的独特性质和应用潜力。同时,结合国内外相关领域的研究进展,为读者提供全面、系统的知识体系。本书通过对多层滑移铁电半导体的深入研究,揭示了其独特的铁电极化翻转模式,即铁电极化在各层之间以逐层翻转的

    • ISBN:9787577012575
  • 碳化硅功率模块设计
    • 碳化硅功率模块设计
    • (日)阿尔贝托·卡斯特拉齐(AlbertoCastellazzi)等著/2024-12-1/ 机械工业出版社/定价:¥119
    • 本书详细介绍了多芯片SiCMOSFET功率模块设计所面临的物理挑战及相应的工程解决方案,主要内容包括多芯片功率模块、功率模块设计及应用、功率模块优化设计、功率模块寿命评估方法、耐高温功率模块、功率模块先进评估技术、功率模块退化监测技术、功率模块先进热管理方案、功率模块新兴的封装技术等。本书所有章节均旨在提供关于多芯片S

    • ISBN:9787111766544
  • 衍射极限附近的光刻工艺(第2版)
    • 衍射极限附近的光刻工艺(第2版)
    • 伍强、胡华勇、何伟明、岳力挽、张强、杨东旭、黄怡、李艳丽/2024-11-1/ 清华大学出版社/定价:¥368
    • "为了应对我国在集成电路领域,尤其是光刻技术方面严重落后于发达国家的局面,破解光刻制造设备、材料和光学邻近效应修正软件几乎完全依赖进口的困境,作为从事光刻工艺研发近20年的资深研发人员,作者肩负着协助光刻设备、材料和软件等产业链共同研发和发展的责任,将为了应对我国在集成电路领域,尤其是光刻技术方面严重落后于发达国家的局

    • ISBN:9787302676119
  •  氮化镓半导体材料及器件
    • 氮化镓半导体材料及器件
    • 张进成/2024-10-1/ 西安电子科技大学出版社/定价:¥108
    • 以GaN为衬底材料的Ⅲ-Ⅴ族氮化物(包括AlN、GaN、InN及相关合金)是极为重要的宽禁带半导体材料,这类氮化物材料和器件的发展十分迅速。本书通过理论介绍与具体实验范例相结合的方式对氮化物半导体材料及器件进行介绍,并系统地讲解了目前广泛应用的氮化物光电器件与氮化物电力电子器件,使读者能够充分了解二者之间内在的联系与区

    • ISBN:9787560673851
  •  半导体工艺可靠性 [中]甘正浩 [美]黄威森 [美]刘俊杰
    • 半导体工艺可靠性 [中]甘正浩 [美]黄威森 [美]刘俊杰
    • [中]甘正浩 [美]黄威森 [美]刘俊杰/2024-10-1/ 机械工业出版社/定价:¥199
    • 半导体制造作为微电子与集成电路行业中非常重要的环节,其工艺可靠性是决定芯片性能的关键。本书详细描述和分析了半导体器件制造中的可靠性和认定,并讨论了基本的物理和理论。本书涵盖了初始规范定义、测试结构设计、测试结构数据分析,以及工艺的最终认定,是一本实用的、全面的指南,提供了验证前端器件和后端互连的测试结构设计的实际范例。

    • ISBN:9787111764946
  • 氮化镓电子器件热管理
    • 氮化镓电子器件热管理
    • (美)马尔科·J.塔德尔(MarkoJ.Tadjer),(美)特拉维斯·J.安德森(TravisJ.Anderson)主编/2024-9-1/ 机械工业出版社/定价:¥168
    • 本书概述了业界前沿研究者所采取的技术方法,以及他们所面临的挑战和在该领域所取得的进展。具体内容包括宽禁带半导体器件中的热问题、氮化镓(GaN)及相关材料的第一性原理热输运建模、多晶金刚石从介观尺度到纳米尺度的热输运、固体界面热输运基本理论、氮化镓界面热导上限的预测和测量、AlGaN/GaNHEMT器件物理与电热建模、氮

    • ISBN:9787111764557
  •  LED驱动与应用电路设计及案例分析 周党培
    • LED驱动与应用电路设计及案例分析 周党培
    • 周党培/2024-9-1/ 机械工业出版社/定价:¥69
    • 《LED驱动与应用电路设计及案例分析》针对电子电路应用设计实务中的痛点和难点,通过案例举一反三,使读者能快速掌握分析和解决问题的方法和思路。全书的编排设计始终遵循以读者为中心、成果导向和持续改进的理念,以培养应用型的工程技术人员为目标,贯穿于整个电子产品设计的全过程。全书采用案例式教学,通过问题引导的方式帮助读者积累知

    • ISBN:9787111758549
  •  宽禁带功率半导体封装 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • 宽禁带功率半导体封装 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • [日]菅沼克昭(Katsuaki Suganuma)/2024-9-1/ 机械工业出版社/定价:¥119
    • 本书是国外学者们对宽禁带半导体封装技术和趋势的及时总结。首先,对宽禁带功率器件的发展趋势做了总结和预演判断,讲述宽禁带功率半导体的基本原理和特性,包括其独特的物理和化学属性,以及它们在极端环境下的潜在优势。接着介绍封装材料的选择和特性,分别就互连技术和衬底展开论述,同时,介绍了磁性材料,并对不同材料结构的热性能,以及冷

    • ISBN:9787111763178
  • 宽禁带功率半导体器件可靠性
    • 宽禁带功率半导体器件可靠性
    • 孙伟锋著/2024-9-1/ 东南大学出版社/定价:¥0
    • 以碳化硅、氮化镓为代表的第三代宽禁带功率半导体器件具有导通电阻低、击穿电压高、开关速度快及热传导性好等优点,相比传统的Si基功率器件,可简化功率电子系统拓扑结构,减小系统损耗和体积,因而对功率电子系统的发展至关重要。然而,由于宽禁带器件的外延材料和制备工艺仍不完善,器件界面缺陷密度大等问题,使得宽禁带功率器件在高温、高

    • ISBN:9787576601534