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本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备（ATE）V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的

伪集成电路是指不符合正品集成电路设计规范要求的非授权产品,主要形式包括回收、重标记、超量生产、不合格/有缺陷、克隆、伪造文件,以及篡改等,会大大降低应用系统的安全性和可靠性。本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析,并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家,全面介绍相关的研究背景、安全威胁

本书全面系统地讲解了MOS集成电路的原理与设计。全书分为八章，第一章是绪论，介绍了集成电路的发展；第二章讲解了集成电路的制作工艺；第三章深入分析了MOS和双极型器件的工作原理，并讨论了集成电路中的无源器件和互连线的寄生效应；第四章系统地讲解了MOS集成电路的基本电路结构，电路工作原理和设计考虑；第五章分析了数字集成电路

《IC芯片设计中的静态时序分析实践》深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法，涉及了包括互连线模型、时序计算和串扰等影在内的响纳米级电路设计的时序的重要问题，并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化（OCV）下进行时序检查的方法。详细介绍了层次化块（Block）、全芯片及特殊IO接口

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从20世纪90年代开始，利用硬件描述语言和综合技术设计实现复杂数字系统的方法已经在集成电路设计领域得到普及。随着集成电路集成度的不断提高，传统硬件描述语言和设计方法的开发效率低下的问题越来越明显。近年来逐渐崭露头角的敏捷化设计方法将把集成电路设计带入一个新的阶段。与此同时，集成电路设计也需要一种适应敏捷化设计方法的新型

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